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汽車電子元器件AEC-Q102測試流程
發(fā)表時間:2023-09-26 17:16:34
AEC（汽車電子委員會）于2017年3月正式發(fā)表 AEC-Q102 REV 標(biāo)準(zhǔn)，此規(guī)范主要為離散光電組件產(chǎn)品進(jìn)入車用市場制定的判斷標(biāo)準(zhǔn)，同時也是目前針對車用LED通用的國際標(biāo)準(zhǔn)。其驗(yàn)證包含實(shí)驗(yàn)樣品數(shù)量的重新定義、LEDTj (Junction Temperature)控制的方式、氣體腐蝕的增加等，每項(xiàng)都是針對車用LED所可能遭遇的環(huán)境來設(shè)計(jì)，以保護(hù)行車時的安全性。

LED光源在汽車的應(yīng)用越來越廣，車燈照明、激光雷達(dá)、智能系統(tǒng)、盲點(diǎn)偵測等應(yīng)用都需要高品質(zhì)的LED，也因此眾多 LED 元組件供貨商積極布局車用 LED 領(lǐng)域。但如何讓其LED產(chǎn)品在車電市場中占有一席之地，通過 AEC-Q102 驗(yàn)證是最重要的通行證之一。


適用產(chǎn)品：LED、激光組件、激光元件、光電二極管、光電晶體管、發(fā)光二極管、光導(dǎo)管、光電池、光電三極管、熱敏電陽、溫差發(fā)電器、溫差電致冷器。光敏電阻、紅外光源、光電耦合器、發(fā)光數(shù)字管、使用光電功能和其他組件(例如帶集成電路的LED、帶光電二極管的激光組件.光耦)的多芯片模塊。

AEC-Q102認(rèn)證對象：汽車電子所有內(nèi)外使用的分立光電半導(dǎo)體元器件和光電模塊。

AEC-Q102測試流程：

AEC Q102目前適用的版本是2020年的A版，在原有測試項(xiàng)目的基礎(chǔ)上稍微有些調(diào)整，如WHTOL1、WHTOL2，不再要求Tsolder焊點(diǎn)溫度的管控（實(shí)踐中比較困難），而是以Tambient溫度為試驗(yàn)基準(zhǔn)；增加了Board Flex板彎曲測試，補(bǔ)充了SMD器件結(jié)構(gòu)強(qiáng)度的試驗(yàn)要求.在AEC Q102標(biāo)準(zhǔn)中，基本原則是根據(jù)器件類型、封裝形貌等特征，執(zhí)行并通過必要的測試項(xiàng)目，可參考如下：




測試項(xiàng)目分類：

●各項(xiàng)參數(shù)測試：如光電性能測試、外觀、參數(shù)驗(yàn)證、物理尺寸、熱阻等。

●環(huán)境應(yīng)力實(shí)驗(yàn)：按照軍用電子器件環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)和汽車電子通用環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行器件的應(yīng)力實(shí)驗(yàn)，如高溫工作、高溫反偏、高溫高濕工作、高溫高濕反偏、溫度循環(huán)、功率溫度循環(huán)、間歇工作壽命、低溫工作壽命、脈沖工作、振動、沖擊、氣密性、凝露、硫化氫、混合氣體等。

●工藝質(zhì)量評價(jià)：針對封裝、后續(xù)電子組裝工藝，以及使用可靠性進(jìn)行的相應(yīng)元器件工藝質(zhì)量評價(jià)，如ESD、DPA、端子強(qiáng)度、耐焊接熱、可焊性、綁線拉力剪切力、芯片推力、晶須生長等。

AEC Q102測試項(xiàng)目列表：AEC Q102 Rev A, April 6 2020


新部件可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)流程


現(xiàn)有合格部件的評估流程


關(guān)鍵電子元器件性能及壽命檢測設(shè)備


Delta德爾塔儀器專業(yè)致力于關(guān)鍵電子元器件性能及壽命檢測設(shè)備的研發(fā)和制造，符合部分車載電子AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證檢測設(shè)備要求。


系列產(chǎn)品應(yīng)用于各種插頭電源線、電線組件、互連電線組件，器具輸入插座、器具輸出插座、器具插座，電容器（X電容器、Y電容器），隔離電阻器（跨線電阻），變壓器/開關(guān)電源用變壓器，光電耦合器， 電源開關(guān)、繼電器， 熔斷器、熱熔斷體、熔斷電阻器，電位器、定時器、溫控器、限溫器、熱保護(hù)器、電控制器，水位開關(guān)，旋轉(zhuǎn)開關(guān)，傳感器，印制線路板，壓敏電阻，電動機(jī)， 熱敏電阻器等進(jìn)行機(jī)械強(qiáng)度測試，額定電壓測試，額定電流測試，分?jǐn)嗳萘繙y試，負(fù)載特性測試，發(fā)熱（溫升）測試，正常操作測試，壽命可靠性測試，機(jī)械耐久性測試等試驗(yàn)項(xiàng)目。


提供電子元器件的檢測提供整套測試儀器，可以為各類電子、電器制造廠商提供一下檢驗(yàn)測試項(xiàng)目的專業(yè)儀器設(shè)備：集成電路測試：成品測試、老化篩選、失效分析等；破壞性物理分析：外部目檢、X射線檢查、粒子噪聲（PIND）試驗(yàn)、密封性試驗(yàn)、內(nèi)部氣體成分分析、內(nèi)部目檢、內(nèi)引線鍵合強(qiáng)度、掃描電鏡、芯片剪切強(qiáng)度；可靠性壽命和老化篩選：老化篩選試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)、可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)；環(huán)境試驗(yàn)：正弦振動、隨機(jī)振動、機(jī)械沖擊、碰撞（或連續(xù)沖擊）、恒定加速度、跌落、出點(diǎn)動態(tài)監(jiān)測、溫度-振動-濕熱三應(yīng)力試驗(yàn)、高低溫低氣壓、溫度循環(huán)、熱沖擊、耐濕、高壓蒸煮、鹽霧或循環(huán)鹽霧、霉菌、淋雨、氣體腐蝕、沙塵、熱真空、強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱（HAST）；物理性試驗(yàn)：物理尺寸、耐溶劑性、引出端強(qiáng)度、可焊性、耐焊接熱、封蓋扭矩、鍍層厚度、阻燃性試驗(yàn)。