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AEC-Q104車用多芯片模塊可靠性測試
發(fā)表時間:2023-10-09 10:43:43
AEC-Q104認(rèn)證主要針對車用多芯片模塊可靠性測試,是AEC-Q系列家族成員中較新的汽車電子規(guī)范。


AEC-Q104上,為了依據(jù)MCM在汽車上實(shí)際使用環(huán)境,為復(fù)合式的環(huán)境,因此增加順序試驗,驗證通過的難度變高。例如,必須先執(zhí)行完High Temp Operating Life(HTOL),才能做Thermal Shock(TS),顛倒過來就不行。AEC-Q104中針對MCM,增加H系列的測項;此外,針對零件本身的可靠性測試(Component Level Reliability),也增加了Thermal Shock(TS)及外觀檢視離子遷移(VISM)。

AEC-Q104規(guī)范中,共分為A-H八大系列。其中,一大原則,在于MCM上使用的所有組件,包括電阻電容電感等被動組件、二極管離散組件、以及IC本身,在組合前若有通過AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200,MCM產(chǎn)品只需進(jìn)行AEC-Q104H內(nèi)僅7項的測試,包括4項可靠性測試:TCT(溫度循環(huán))、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP);以及3項失效類檢驗:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA);若MCM上的組件未先通過AEC-Q100、AEC-Q101與AEC-Q200,那必須從AEC-Q104的A-H八大測項共49項目中,依據(jù)產(chǎn)品應(yīng)用,決定驗證項目,驗證項目會變得比較多。

測試項目分組:
A組:加速環(huán)境應(yīng)力測試(6項)
B組:加速壽命模擬測試(3項)
C組:封裝組裝完整性測試(8項)
D組:晶圓制造可靠度測試(5項)
E組:電氣特性確認(rèn)測試(10項)
F組:瑕疵篩選監(jiān)控測試(2項)
G組:空封器件完整性測試(8項)
H組:模塊專項測試(7項)

MCM認(rèn)證測試方法選項


檢測項目:


關(guān)鍵電子元器件性能及壽命檢測設(shè)備


Delta德爾塔儀器專業(yè)致力于關(guān)鍵電子元器件性能及壽命檢測設(shè)備的研發(fā)和制造,符合部分車載電子AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證檢測設(shè)備要求。


系列產(chǎn)品應(yīng)用于各種插頭電源線、電線組件、互連電線組件,器具輸入插座、器具輸出插座、器具插座,電容器(X電容器、Y電容器),隔離電阻器(跨線電阻),變壓器/開關(guān)電源用變壓器,光電耦合器, 電源開關(guān)、繼電器, 熔斷器、熱熔斷體、熔斷電阻器,電位器、定時器、溫控器、限溫器、熱保護(hù)器、電控制器,水位開關(guān),旋轉(zhuǎn)開關(guān),傳感器,印制線路板,壓敏電阻,電動機(jī), 熱敏電阻器等進(jìn)行機(jī)械強(qiáng)度測試,額定電壓測試,額定電流測試,分?jǐn)嗳萘繙y試,負(fù)載特性測試,發(fā)熱(溫升)測試,正常操作測試,壽命可靠性測試,機(jī)械耐久性測試等試驗項目。


提供電子元器件的檢測提供整套測試儀器,可以為各類電子、電器制造廠商提供一下檢驗測試項目的專業(yè)儀器設(shè)備:集成電路測試:成品測試、老化篩選、失效分析等;破壞性物理分析:外部目檢、X射線檢查、粒子噪聲(PIND)試驗、密封性試驗、內(nèi)部氣體成分分析、內(nèi)部目檢、內(nèi)引線鍵合強(qiáng)度、掃描電鏡、芯片剪切強(qiáng)度;可靠性壽命和老化篩選:老化篩選試驗、穩(wěn)態(tài)壽命試驗、加速壽命試驗、可靠性強(qiáng)化試驗;環(huán)境試驗:正弦振動、隨機(jī)振動、機(jī)械沖擊、碰撞(或連續(xù)沖擊)、恒定加速度、跌落、出點(diǎn)動態(tài)監(jiān)測、溫度-振動-濕熱三應(yīng)力試驗、高低溫低氣壓、溫度循環(huán)、熱沖擊、耐濕、高壓蒸煮、鹽霧或循環(huán)鹽霧、霉菌、淋雨、氣體腐蝕、沙塵、熱真空、強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱(HAST);物理性試驗:物理尺寸、耐溶劑性、引出端強(qiáng)度、可焊性、耐焊接熱、封蓋扭矩、鍍層厚度、阻燃性試驗。