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AEC 是"Automotive Electronics Council:汽車電子協(xié)會(huì)"的簡(jiǎn)稱?？巳R斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子(AEC)，是主要汽車制造商與美國(guó)的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化為目的的團(tuán)體。

2023年3月20日，AEC發(fā)布了最 新的無源元件測(cè)試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)：AEC - Q200 - Rev E：STRESS TEST QUALIFICATION FOR PASSIVE COMPONENTS。

新標(biāo)準(zhǔn)有兩大改變：

一、適用產(chǎn)品由原來的14種產(chǎn)品改為了16種產(chǎn)品，增加了鈮電容器、保險(xiǎn)絲、超級(jí)電容器、微調(diào)電阻器等產(chǎn)品。

適用產(chǎn)品：鉭電容器（MnO2和聚合物）和鈮電容器、陶瓷電容器、鋁電解電容器、薄膜電容器、電磁（電感/變壓器）、網(wǎng)絡(luò)（R-C/C/R）、電阻、熱敏電阻器、微調(diào)電容器/電阻器、壓敏電阻、石英晶體、陶瓷諧振器、鐵氧體EMI干擾抑制器/ 過濾器、聚合自恢復(fù)保險(xiǎn)絲、保險(xiǎn)絲、超級(jí)電容器。

二、根據(jù)產(chǎn)品尺寸重新定義測(cè)試樣品數(shù)量，新標(biāo)準(zhǔn)按照<10cm3、10cm3≤x≤330cm3、＞330cm3三種規(guī)格確認(rèn)測(cè)試樣品數(shù)量，尺寸越大需要的樣品數(shù)量越少，以溫度循環(huán)為例，產(chǎn)品規(guī)格<10cm3需要77個(gè)樣品，產(chǎn)品規(guī)格10cm3≤x≤330cm3需要26個(gè)樣品，產(chǎn)品規(guī)格＞330cm3僅需要10個(gè)樣品。

測(cè)試項(xiàng)目分類：

●各項(xiàng)參數(shù)測(cè)試：如電氣特性、外觀、尺寸、瞬態(tài)電導(dǎo)、短路耐量、失效電流耐量、壽命終止模式驗(yàn)證助推啟動(dòng)持久性、突卸負(fù)載持久性等。

●環(huán)境應(yīng)力實(shí)驗(yàn)：按照軍用電子元器件環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)和汽車電子通用環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行器件的應(yīng)力實(shí)驗(yàn)，如高溫存儲(chǔ)、溫度循環(huán)、濕度抵抗、偏高濕度、高溫工作、熱沖擊、沖擊電壓、鹽霧試驗(yàn)、沖擊、振動(dòng)等。

●工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)：針對(duì)封裝、后續(xù)電子組裝工藝，以及使用可靠性進(jìn)行的相應(yīng)元器件工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)，如DPA、端子強(qiáng)度、溶劑抵抗、耐焊接熱、ESD、可焊性、可燃性、板彎曲、橫梁負(fù)載、阻燃性、剪切力等。

數(shù)據(jù)來源：華碧實(shí)驗(yàn)室

關(guān)鍵電子元器件性能及壽命檢測(cè)設(shè)備

Delta德爾塔儀器專業(yè)致力于關(guān)鍵電子元器件性能及壽命檢測(cè)設(shè)備的研發(fā)和制造，符合部分車載電子AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證檢測(cè)設(shè)備要求。

系列產(chǎn)品應(yīng)用于各種插頭電源線、電線組件、互連電線組件，器具輸入插座、器具輸出插座、器具插座，電容器（X電容器、Y電容器），隔離電阻器（跨線電阻），變壓器/開關(guān)電源用變壓器，光電耦合器， 電源開關(guān)、繼電器， 熔斷器、熱熔斷體、熔斷電阻器，電位器、定時(shí)器、溫控器、限溫器、熱保護(hù)器、電控制器，水位開關(guān)，旋轉(zhuǎn)開關(guān)，傳感器，印制線路板，壓敏電阻，電動(dòng)機(jī)， 熱敏電阻器等進(jìn)行機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試，額定電壓測(cè)試，額定電流測(cè)試，分?jǐn)嗳萘繙y(cè)試，負(fù)載特性測(cè)試，發(fā)熱（溫升）測(cè)試，正常操作測(cè)試，壽命可靠性測(cè)試，機(jī)械耐久性測(cè)試等試驗(yàn)項(xiàng)目。

提供電子元器件的檢測(cè)提供整套測(cè)試儀器，可以為各類電子、電器制造廠商提供一下檢驗(yàn)測(cè)試項(xiàng)目的專業(yè)儀器設(shè)備：集成電路測(cè)試：成品測(cè)試、老化篩選、失效分析等；破壞性物理分析：外部目檢、X射線檢查、粒子噪聲（PIND）試驗(yàn)、密封性試驗(yàn)、內(nèi)部氣體成分分析、內(nèi)部目檢、內(nèi)引線鍵合強(qiáng)度、掃描電鏡、芯片剪切強(qiáng)度；可靠性壽命和老化篩選：老化篩選試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)、可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)；環(huán)境試驗(yàn)：正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)、機(jī)械沖擊、碰撞（或連續(xù)沖擊）、恒定加速度、跌落、出點(diǎn)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)、溫度-振動(dòng)-濕熱三應(yīng)力試驗(yàn)、高低溫低氣壓、溫度循環(huán)、熱沖擊、耐濕、高壓蒸煮、鹽霧或循環(huán)鹽霧、霉菌、淋雨、氣體腐蝕、沙塵、熱真空、強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱（HAST）；物理性試驗(yàn)：物理尺寸、耐溶劑性、引出端強(qiáng)度、可焊性、耐焊接熱、封蓋扭矩、鍍層厚度、阻燃性試驗(yàn)。