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安規(guī)電容可靠性試驗項目、試驗方法及要求
發(fā)表時間:2022-01-08 11:23:25

安規(guī)(XY)電容器可靠性試驗執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)是GB/T6346.14-2015《電子設(shè)備用的固定電容器》中的相關(guān)條款,對應(yīng)的IEC標(biāo)準(zhǔn)是IEC60384-14:2005。



一、安規(guī)電容可靠性試驗標(biāo)準(zhǔn)


GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法


GB/T 2123.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法


GB/T 2423.3-1993電工電了產(chǎn)品基木環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法


GB/T 2123.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法


GB/T 6346.14、IEC 60384-14 安規(guī)電容可靠性試驗方法


二、安規(guī)電容可靠性試驗項目、試驗方法及要求


(一)、高溫負(fù)荷


1. Y電容高溫負(fù)荷試驗方法


試驗溫度:最高溫度+10℃


試驗時間:96H+8H


實驗電壓:Y1、Y2:1000VAC


電容并聯(lián)測試


恢復(fù)1~2小時測試電性能


2. X電容高溫負(fù)荷試驗方法


試驗溫度:最高溫度115℃


試驗時間:96H+8H


實驗電壓:700VDC±3V


電容并聯(lián)測試


恢復(fù)1~2小時測試電性能


高溫負(fù)荷試驗后參數(shù)與外觀要求


外觀:無顯著異常


容量變化率:試驗前后的Cpk值>1.5


漏電流:試驗前后的Cpk值>1.5


DF(損耗角):試驗前后的Cpk值>1.5


絕緣電阻:試驗前后的Cpk值>1.5


注:試驗電路板上要串聯(lián)一個大約1KΩ1/4W的保護(hù)電阻,且施加負(fù)荷電壓時不可瞬間施加其試驗電壓,應(yīng)逐步加壓至試驗電壓,待其穩(wěn)定后每H檢測負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)!


(二)、溫度沖擊


1. Y電容溫度沖擊試驗方法


試驗條件:最高溫度與最低溫度來回循環(huán)5次,每次0.5H


恢復(fù)1~2小時測試電性能


2. X電容溫度沖擊試驗方法


試驗條件:最高溫度與最低溫度來回循環(huán)5次,每次0.5H


恢復(fù)1~2小時測試電性能


溫度沖擊試驗后參數(shù)與外觀要求


外觀:無顯著異常


容量變化率:試驗前后的Cpk值>1.5


漏電流:試驗前后的Cpk值>1.5


DF(損耗角):試驗前后的Cpk值>1.5


絕緣電阻:試驗前后的Cpk值>1.5


(三)、耐濕負(fù)荷


1. Y電容耐濕負(fù)荷試驗方法


試驗溫度:40℃±3℃


濕度:93%±3%


試驗時間:96H+8H


實驗電壓:Y1、Y2:1000VAC


電容并聯(lián)測試


恢復(fù)1~2小時測試電性能


2. X電容耐濕負(fù)荷試驗方法


試驗溫度:40℃±3℃


濕度:93%±3%


試驗時間:96H+8H


實驗電壓:700VDC±3V


電容并聯(lián)測試


恢復(fù)1~2小時測試電性能


耐濕負(fù)荷試驗后參數(shù)與外觀要求


外觀:無顯著異常


容量變化率:試驗前后的Cpk值>1.5


漏電流:試驗前后的Cpk值>1.5


DF(損耗角):試驗前后的Cpk值>1.5


絕緣電阻:試驗前后的Cpk值>1.5


注:試驗電路板上要串聯(lián)一個大約1KΩ 1/4W的保護(hù)電阻,且施加負(fù)荷電壓時不可瞬間施加其試驗電壓,應(yīng)逐步加壓至試驗電壓,待其穩(wěn)定后每4H檢測負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)!


(四)、溫度特性


1. 低溫特性試驗方法


測試條件:最低溫度±3℃


0.5H后測試其電性參數(shù)


試驗后參數(shù)與外觀要求


外觀:無顯著異常


容量變化率:試驗前后的Cpk值>1.0


DF(損耗角):試驗前后的Cpk值>1.0


2. 高溫特性試驗方法


測試條件:最高溫度±3℃


0.5H后測試其電性參數(shù)


高溫特性試驗后參數(shù)與外觀要求


外觀:無顯著異常


容量變化率:試驗前后的Cpk值>1.0


DF(損耗角):試驗前后的Cpk值>1.0


3. 高溫存儲試驗方法


測試溫度:最高溫度±3℃


試驗時間:1000H+24H


恢復(fù)1-2小時測試電性能


試驗后參數(shù)與外觀要求


外觀:無顯著異常


容量變化率:試驗前后的Cpk值>1.5


漏電流:試驗前后的Cpk值>1.5


DF(損耗角):試驗前后的Cpk值>1.5


絕緣電阻:試驗前后的Cpk值>1.5


三、電容器檢測設(shè)備


Delta德爾塔儀器專業(yè)致力于關(guān)鍵電子元器件性能及壽命檢測設(shè)備,該系列產(chǎn)品應(yīng)用于各種插頭電源線、電線組件、互連電線組件,器具輸入插座、器具輸出插座、器具插座,電容器(X電容器、Y電容器),隔離電阻器(跨線電阻),變壓器/開關(guān)電源用變壓器,光電耦合器, 電源開關(guān)、繼電器, 熔斷器、熱熔斷體、熔斷電阻器,電位器、定時器、溫控器、限溫器、熱保護(hù)器、電控制器,水位開關(guān),旋轉(zhuǎn)開關(guān),傳感器,印制線路板,壓敏電阻,電動機(jī), 熱敏電阻器等進(jìn)行機(jī)械強(qiáng)度測試,額定電壓測試,額定電流測試,分?jǐn)嗳萘繙y試,負(fù)載特性測試,發(fā)熱(溫升)測試,正常操作測試,壽命可靠性測試,機(jī)械耐久性測試等試驗項目。


電容器分別包括檢測它的破壞性試驗、浪涌放電試驗、熱穩(wěn)定性試驗、沖擊放電試驗、自愈性試驗、脈沖電壓試驗、防爆試驗、耐壓測試、自燃試驗、耐久性試驗等等測試性能。


電容器沖擊放電試驗臺

電容器破壞性試驗臺

電容器脈沖電壓試驗裝置

電容器耐久性試驗裝置